諾瓦星云科技：MiniLED校正解決方案

　　隨著越來越多的LED廠家進入MiniLED領域，更(geng)小的點間距依賴新的封(feng)裝工藝來提(ti)升的可靠(kao)性和防護性，其(qi)中COB和四合一(yi)就是一(yi)個主要的趨(qu)勢。這一(yi)趨(qu)勢在為觀(guan)眾更(geng)好的觀(guan)看體驗(yan)、提(ti)升屏的可靠(kao)性和防護性能(neng)、更(geng)加節能(neng)之外(wai)，也給行業帶來新的挑戰。

　　一(yi)方(fang)面(mian)，新(xin)工藝(yi)更新(xin)之后(hou)(hou)，傳(chuan)統(tong)校(xiao)正技(ji)術難(nan)以滿足均勻性要求。如下圖所(suo)示，COB校(xiao)正后(hou)(hou)依然(ran)會存在明顯色塊(kuai)。

　　為什么會存在這一問題?

　　在(zai)SMD表(biao)貼燈珠的時期(qi), 燈的點(dian)間距較大，燈對(dui)燈的亮(liang)度干擾相(xiang)(xiang)對(dui)有限。另外(wai)也沒有膠體的反(fan)射干擾，這樣我(wo)們就可以采集到(dao)相(xiang)(xiang)對(dui)準確的亮(liang)度值。

　　而在MiniLED時代，點間距(ju)越(yue)(yue)(yue)來越(yue)(yue)(yue)小，燈與燈的(de)(de)物理位置(zhi)越(yue)(yue)(yue)來越(yue)(yue)(yue)近，導致(zhi)燈與燈的(de)(de)亮度(du)相互串擾明(ming)顯(xian)，圖像模糊重(zhong)疊等現(xian)象愈發(fa)明(ming)顯(xian)。 除此之外，新(xin)工藝(yi)中表面膠體(ti)的(de)(de)封裝，導致(zhi)光在傳遞中二次反射(she)影響(xiang)，造成(cheng)光源(yuan)干擾的(de)(de)加(jia)劇，對采集燈珠亮色度(du)的(de)(de)準確性造成(cheng)了影響(xiang)。

　　另一方(fang)面(mian)，低(di)灰表(biao)現(xian)和(he)高(gao)灰表(biao)現(xian)有顯(xian)著差異，低(di)灰段(duan)不(bu)一致性(xing)問題凸顯(xian)。

　　為什么會存在這一問題?

　　低灰階效果(guo)和我們的(de)電路設計、芯片的(de)選(xuan)型、硬件控制都有關聯;低灰系數(shu)又極易受到以上條件的(de)輕微影響而實(shi)現不(bu)準(zhun)確，導(dao)致(zhi)效果(guo)變差。

　　PWM驅動帶來的低灰量化誤差

　　MiniLED校正解決方案

　　1、采用科學級相機，提高測量精度。

　　采用符(fu)合(he)人(ren)眼(yan)感(gan)知(zhi)特性(xing)的CIE-XYZ濾片，反映人(ren)眼(yan)真實感(gan)知(zhi)。

　　CIE-XYZ科學級相機

CIE-XYZ濾片光譜曲線

　　常規(gui)相機(ji)處(chu)于成(cheng)本的考慮(lv)，使用簡易(yi)的Bayer濾(lv)片(pian)，Bayer濾(lv)片(pian)光(guang)(guang)譜不(bu)(bu)穩定，還存在毛刺過渡不(bu)(bu)平滑，這會導致嚴重(zhong)的光(guang)(guang)譜測(ce)量誤差。

　　諾瓦打造的(de)(de)CIE-XYZ科學級相(xiang)機(ji)的(de)(de)關鍵就(jiu)在(zai)于CIE-XYZ濾(lv)片(pian)技術(shu)。諾瓦通過(guo)多年的(de)(de)濾(lv)片(pian)設(she)計創新(xin)，持(chi)續的(de)(de)迭代，推出LED測(ce)量(liang)設(she)計的(de)(de)濾(lv)片(pian)標定(ding)算法，確保(bao)測(ce)量(liang)的(de)(de)準確性(xing)。CIE-XYZ科學級相(xiang)機(ji)選(xuan)用多組(zu)轉輪，多次測(ce)量(liang)，得(de)到符(fu)合人眼特性(xing)的(de)(de)測(ce)量(liang)數據,使得(de)校正后更加貼近人眼感知的(de)(de)畫(hua)面效(xiao)果。

　　2、改進校正流程，增加消除混光處理。

　　諾瓦對采(cai)集圖像二次處理、還原自身亮度數據，重新(xin)計數真實亮度下(xia)的(de)校正數據。提升屏體的(de)均勻性(xing)，使得(de)顯示效果更加細(xi)膩，這就是MiniLED全(quan)新(xin)的(de)混光(guang)消除技術。

　　3、通過全灰階校正技術，提升灰階表現精度。

　　通過光槍CA-410采集灰(hui)階數(shu)據，再通過灰(hui)階修正(zheng)工具計算修正(zheng)系數(shu)，對各灰(hui)階進行補償，改善非線(xian)性響應，最終通過硬件編碼，在諾瓦A8s、A10s Plus接(jie)收卡(ka)上(shang)使得(de)灰(hui)階顯示(shi)臺(tai)階問題(ti)得(de)到優化。

　　我們(men)來(lai)看一組低灰階實拍圖，看看在(zai)全灰階校(xiao)正(zheng)前后的(de)對比效果，我們(men)會發現校(xiao)正(zheng)后的(de)顯(xian)示屏(ping)畫面(mian)相較于校(xiao)正(zheng)前，麻點、色塊、偏色的(de)問題均得到(dao)了顯(xian)著改(gai)善，均勻性和畫面(mian)細(xi)膩度(du)大幅提升。

　　這就(jiu)是諾瓦推(tui)出的(de)MiniLED校正(zheng)解(jie)(jie)決(jue)方案。通過CIE-XYZ科學級校正(zheng)相機，配(pei)合貼(tie)近人眼的(de)XYZ濾片，確保MiniLED采集的(de)準確性。全灰階校正(zheng)通過逐級灰階測量(liang)與優化，解(jie)(jie)決(jue)灰階實現(xian)不準的(de)難題。